腾讯分分彩    镀层测厚仪    iEDX-150T镀层测厚仪
150T
创建时间:2018-05-21 17:00
浏览量:0

iEDX-150T镀层测厚仪

ISP iEDX-150T镀层测厚仪;
采用非真空样品腔;
专业用于PCB电镀镀层分析、电路板镀层膜厚分析测试及镀层测厚;
采用多种光谱拟合分析处理技术;
可同时分析镀层中的合金成份比列。

善时仪器

手  机: 18589082047

电     话 :  0755-23347785

传  真: 0755-27205042

邮    箱: sales@sdd008.com

地  址: 深圳市宝安区新桥街道沙企社区中心路18号高盛大厦12楼

 

 

应用领域

 iEDX-150T镀层测厚仪应用于金属电镀镀层分析领域

 

技术指标

多镀层分析,1~5层

测试精度:0.001 μm

元素分析范围从铝(Al)到铀(U)

测量时间:10~30秒

SDD探测器,能量分辨率为125±5eV

探测器Be窗0。5mil(12。7μm)

微焦X射线管50KV/1mA,钼,铑靶(高配微焦钼靶)

6个准直器及多个滤光片自动切换

 XYZ三维移动平台,MAX荷载为5公斤

 高清CCD摄像头(200万像素),准确监控位置

多变量非线性去卷积曲线拟合

高性能FP/MLSQ分析

仪器尺寸:618×525×490mm

样品台尺寸:250×220mm

样品台移动范围:前后左右各80mm、高度90mm

 

图谱界面

软件支持无标样分析

超大分析平台和样品腔

集成了镀层界面和合金成分分析界面

采用多种光谱拟合分析处理技术

镀层测厚分析精度可达到0。001μm

 

分析报告结果

直接打印分析报告
报告可转换为PDF,EXCEL格式

 

样品分析图谱:

 

150T样品分析图谱

 

测试结果界面:

 

150T测试结果

 

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